OSにWindowsを使用した冷却ラインセンサーカメラ用高性能欠陥検査画像処理装置
AYA-40VLシリーズをお使いのお客様の品種替えに対応するのが
AYA-40ENH
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5000画素の冷却ラインセンサーカメラ(CL-5000)が従来のカメラではなし得なかった高画質を実現。最大4ケ所の検査エリアを設定できるため、ラック内にコンパクトに収まります。
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照度の得られない環境での欠陥検査や、薄いスジやムラなどの検出に優れています。検査画像に輝度のムラやシェーディングがあっても、リアルタイムに欠陥検出します。
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独自のアルゴリズムで、欠陥の膨張とノイズ成分の平滑化をハード処理にて行い、良品錯誤のない高速な欠陥検査を行います。
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欠陥画像や、欠陥のアドレス情報が 残せ、LANも装備されているので、データ管理が容易です。
AYA-40VL
によるガラス欠陥検出実験例
ゲル・異物の強調
a. 取込み画像(生画像)
地合との差がほとんど無く、閾値をもつことが出来ない。
b. エンハンス・
射影加算画像
地合との差は出たが、照明ムラにより閾値をもつことが出来ない。
c. 隣接輝度相関処理画像
欠陥が強調されただけでなく、照明ムラやノイズ(地合ムラ等)が平滑化され、余裕のある閾値をもつことが出来る。
エッジ欠けの検出
a. エンハンス・
射影加算画像
エッジ部分が欠けたガラスの画像。
b. 隣接輝度相関処理画像
隣接輝度相関処理により欠陥強調され、地合・背景共に平滑化されているが、エッジ部分に不感帯が必要となってしまう。
c. エッジイレース処理画像
エッジが消え、欠陥のみが残っただけでなく、地合・背景共により平滑化され、S/N比が上がっている。
横スジの検出
a. エンハンス・
射影加算画像
流れ方向と垂直なスジが入ったガラスの画像。
b. エッジエンハンス
処理画像
エッジエンハンス処理により、横スジが強調されるだけでなく地合・背景共に平滑化される。濃度の平滑化を行うため、ワークの個体差による検出精度のばらつきが無い。
c. NG表示
NG判定部分は赤く塗りつぶされます。NGの大きさ、濃度、個数によって色表示が変わるため、現地オペレーターの方も調整が容易です。
こんなワークでお困りではありませんか?
エッジイレース機能の応用1:シャフトや印刷物のエッジ欠け欠陥検出
a.エンハンス・
射影加算処理画像
ワーク自体にデザインがある
と、この様な画像になります。
b. 隣接輝度相関処理画像
欠陥部分は強調されています
が、エッジ部分も強調されるため不感帯や、別カメラの設定を余儀なくされることも。
c. エッジイレース処理画像
エッジイレース処理を用いる
と、デザインによるエッジが全て消され、1カメラ・1設定でのリアルタイム処理が可能です。
エッジイレース機能の応用2:凹凸のあるプラスチックパネルの異物(300ミクロン)検出
a. エンハンス・
射影加算処理画像
細かい凹凸がパネル一面にあるため、異物は地合と重なりこのような画像になります。
b. エッジイレース処理画像
リアルタイムで凹凸による地合の変化をなくし、水色の線部分の欠陥を輝度波形がとらえています。
c. NG表示
NG判定部分はラベリングされ、赤く塗りつぶされます。
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